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SPEK-C膜的正电子湮灭寿命谱学研究


□ 马卫涛 张永明 朱大鸣 阴泽杰 徐铜文 图图英

  摘要:利用正电子湮灭寿命谱(PALS)法及原子力显微镜(AFM),研究了磺化及溶剂蒸发对(磺化)酚酞侧基聚芳醚硐(SPEK-C)膜制备的影响.结果表明:磺化基团的引入,降低了分子间的作用力,使得分子间排列不紧密,导致聚合物的自由体积大小与强度同时增加;铸膜液溶剂挥发,聚合物浓度增加,胶束聚集体的相互聚集产生较大的胶束聚集体孔,使自由体积减小而强度增大,聚合物的自由体积较好地反映了胶束聚集体的聚集特征.
  关键词:正电子湮灭寿命谱,酚酞侧基聚芳醚硐,原子力显微镜,自由体积,相转化
  中图分类号:O64
  文献标识码:A

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原版页码:434,435,436,437,438,439原版全文
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