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分子电子器件的电性能测试方法


□ 王 伟

  摘 要 介绍了用于两端分子电子器件电性能测试的纳米孔技术、交叉线接触技术、导电原子力显微镜技术、扫描隧道显微镜技术、纳米间距电极技术以及机械可控断裂结技术。结合分子器件的电性能测试要求,对各类测试方法进行了分析评价,并简要指出了分子器件电性能测试研究的发展趋势。
  关键词 分子电子学,分子电子器件,电性能测试
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