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机内测试系统虚警问题的数学模型分析


□ 杨 光 邱 静 温熙森 刘冠军

  摘 要:根据虚警产生的机理及机内测试(BIT)系统信息处理流程对虚警率建模.基于Bayes概率分析构建了传统BIT系统虚警率的分析模型.为降低虚警率,提出嵌入数据异常检测和恢复功能的BIT系统改进模型,并证明了该模型的有效性。对影响FAR的因素进行了系统分析.分析表明,影响虚警率的主要特性参数有诊断层的虚警率以及传感层的漏警率和故障率.
  关键词:数学模型;传感器;机内测试;虚警率
  中图分类号:TPl87;THll3
  文献标识码:A

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